1．4用于可制造性问题的测试芯片设计 测试芯片（test chip），顾名思义即用于一些特定测试的芯片，根据不同的 测试目的设计不同的芯片，本文的测试芯片主要用于研究在超深亚微米下，半 导体...
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A test chip was designed and taped out in 200mm 65nm wafer scribe line, and the initial test results are positive.
由这两部分电路组成的测试芯片被放在8英寸65nm产品的划片槽内流片,初步测试结果表明达到基本设计预期。
参考来源 - 基于NOR LPDDR架构针对用低频测试仪测试高速芯片的DFT设计及实现·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
本文设计了一款测试芯片并在一家半导体厂加工制造。
A test chip is designed and manufactured in a semiconductor foundry to test the layout dependency of the electroplating process.
测试芯片上的“系统”很多人已写了一个“片面系统”的概念，逻辑和模拟功能不断增长的集成在一个硅芯片或芯片。
Testing the "system on a chip" Much has been written about the concept of a "system on a chip," the ever-increasing integration of logic and analog functions on one silicon die or chip.
另外，本文还针对IP核投片测试提出一种扫描测试电路结构，能够实现测试芯片的扫描测试和高速内建自测试(BIST)。
Moreover, a scan test circuit was proposed. This circuit can implement scan test and high speed build in self test (BIST) for IP core chip tests.
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