我本来很犹豫是不是还要写这一讲的内容，按理说每个讲FPGA或者数字逻辑设计的材料中都会不遗余力的对测试向量（Test bench）进行介绍。而且，如何对于测试向量进行编程，也是数字逻辑设计者的基本功。
基于158个网页-相关网页
自动测试向量生成 ATPG ; Automation test pattern Generation
测试向量自动生成 ATPG ; automatic test pattern generation
测试向量文件 test vector file
测试向量生成 test vector generation
测试向量与测试集 Test Vector and Test Set
建立仿真测试向量 Simulation Test Vectors
自动化测试向量产生 automated test pattern generation ; ATPG
直接测试向量生成 Directed Test Vector Generation
测试向量生成器 Test Pattern Generator ; TPG
Using the dir-ected graph as the functional test model of the sequential circuit. Using the method of the graph theory generate the functional validate test vector.
采用有向图作为的时序电路功能测试模型,采用图论的方法生成时序电路的功能验证测试向量。
参考来源 - 数字电路板时序电路测试方法For the test application time can be reduced effectively, this paper proposes an approach based on scan chain disabling technique, in view of incompatible test vector compression method.
为进一步降低测试功耗及测试应用时间，提出一种基于扫描链阻塞技术且针对非相容测试向量的压缩方法。
参考来源 - 一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法A test pattern generator based on CUT's feedback is realized.
本文实现了一种基于自反馈的测试向量产生方法，采用只增加反馈线的方式来对集成电路进行测试。
参考来源 - 时延故障测试产生算法与I·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。
For a fixed set of test vectors, the overall test time can be minimized using the scan chain constructed with this method.
压缩时，先对测试向量集进行差分运算，然后采用CPRL码编码差分向量序列。
During compression, it generates difference vectors from test data and then encoding the vectors with CPRL codes.
该算法将测试向量空间映射到混沌空间并采用混沌搜索来寻找一对符合要求的测试向量对。
The algorithm maps test vector space to the chaotic space and USES chaotic search to find out the suitable testing pairs.
应用推荐