书名:数字系统测试 图书编号:2392995 出版社:电子工业 定价:89.0 ISBN:712104542 作者:[美]NirajJha,Sa 出版日期:2007-01-01 版次: 开本:16开 简介:在半导体集成电路的设计与制造过程中,测试的重要性越来越突出,有关数字系统测试方面的书籍也不断出现,本书是这些书籍中内容十分全面丰富的一本。本书系统地介绍了数字系统测试相关方面的知识,包括基础内容方面的自动测试向量生成、可测性设计、内建自测试等,高级内容方面包括IDDQ测试、功能测试、延迟故障测...