【摘要】： 扫描离子电导显微镜(SICM)是一种扫描探针显微技术,通过测定超微玻璃管探针的离子电流,它能够非接触地扫描样品表面,进而研究样品的形貌及性质。
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扫描离子电导显微镜 SICM ; Scanning Ion Conductance Microscopy
扫描离子导电显微镜 Scanning Ion-Conductance Microscope
描离子电导显微镜
Description ion conductivity microscope
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