... contact molding 接触模铸 contact probe 接触用探针 contact-proximity aligner 密接-近接对准曝光器 ...
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接触用探针
Contact probe
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本文提出一种用直线四探针头测量金属-半导体欧姆接触接触电阻率的简捷方法。
In this paper, a simple method to measure the specific contact resistance of metal-semiconductor ohmic contact is developed, using the probe heads of the inline four probes.
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