扫描探针技术的进展--《仪器仪表学报》1996年S1期 展 姜斌 恽正中 【摘要】： 扫描探针技术的进展姜斌，恽正中（电子科技大学信息材料工程学院）扫描探针技术（ScanningProbeTechnique，SPT）由扫描探针显微镜（SPM）和扫描探针谱（SPS）组成。这种技术既能观察表面电子和原子结构及其动力学过
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方法应用电子探针微区分析(EPMA)技术对初期釉质龋中化学成分的空间分布进行选定微区、线扫描及面扫描分析。
Methods the spatial distribution of the compositional elements in incipient enamel caries was obtained by spot selection, line and map analyses with electron probe microanalysis technique (EPMA).
文章综述了扫描探针刻蚀技术的最新研究进展，并介绍了扫描探针刻蚀加工机理。
This paper summarized the current development of scanning probe lithography and introduced the mechanisms of forming nanometer structure.
扩散偶和合金样品采用光学显微镜、扫描电镜和电子探针显微分析技术进行分析。
Both the diffusion couple specimens and the alloys were examined by means of optical microscopy, scanning electron microscopy, and electron probe microanalysis.
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