How to determine the acceptability region in design space is a difficulty in the optimization of parametric yield.
本文提出了一种新的IC参数成品率的全局优化算法一映射距离最小化算法。
参考来源 - 集成电路参数成品率的预测与优化技术研究This dissertation aims at discussing income optimal model of parameter yield. Based on Design centering and Maximum Income Approach, the author put forward a new global profit optimal model that grounds on 1C products' optimal classifying.
本论文主要研究了集成电路参数成品率的效益协调优化模型，在中心值设计、效益极大化模型的基础上提出了一种基于产品最优分档的整体效益协调优化模型。
参考来源 - 基于IC产品最优分档的效益协调优化模型及求解研究Thirdly, considering the impact of process variations on VLSI parameter yield, a chebyshev affine arithmetic based yield estimation approach is proposed.
第三,考虑工艺参数扰动对大规模集成电路参数成品率估计的影响,提出了基于切比雪夫仿射技术的参数成品率估计方法。
参考来源 - VLSI受工艺参数扰动影响的若干问题研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
这些平台共同工作以表征、建模和分析变化的参数成品率和性能的影响。
These platforms work together to characterize, model and analyze the impact of variability on parametric yield and performance.
集成电路参数成品率的研究是集成电路可制造性工程和设计研究的重要内容之一。
The integrated circuits parametric yield is important problem of the IC designing and manufacture engineering.
超大规模集成电路(VLSI)中的参数成品率最优化问题一直是集成电路可制造性设计的重点研究问题。
The maximum problem of parametric yield in VLSI is always an important issue in design for manufacturing (DFM).
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