... semiconductor parameter measurement 半导体参数测量 semiconductor parameter 半导体参数 semiconductor photocell 半导体光电管 ...
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半导体参数测量 [电子] semiconductor parameter measurement
半导体器件参数稳定性 [电子] semiconductor device parameter stability
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本文着重论述了田口式参数设计法在半导体制造中对线宽的质量控制。
Mainly the author of this essay elaborates that Taguchi parameter design controls the linewidth quality in semiconductor manufacturing.
提出一种具有逻辑时序特征的微粒群优化算法，并将其应用于半导体封装生产线的工序参数优化中。
A kind of particle swarm optimization method with the characteristic of logical time-sequenced is proposed and applied to procedure parameters optimization of semiconductor assembly product line.
工艺参数的变异导致半导体制造过程的偏差。
The process variation accounts for deviations in the semiconductor fabrication process.
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