在本文中，一个新的补种架构的基于扫描的内置自测试（BIST），它使用一个线性反馈移位寄存器（LFSR）作为测试码模式发生器，提出。利用多个单元格的LFSR作为源供给电路的扫描链的受测试在不同的测试阶段。
基于1582个网页-相关网页
本章介绍流密码的工作原理，作为基于线性移位寄存器(LFSR)的流密码的重要组成部分，还介绍了线性移位寄存器的工作原理，并介绍了两类重要的流密码：同步流密码和自同步流密码。
基于208个网页-相关网页
在测试模式下，被测电路（CUT）是从线性进给返回移位寄存器（LFSR），并产生一个周期不变响应一个周期产生的矩形脉冲刺激。脉冲宽度是一个的BIST参数允许测试时间和故障覆盖率之间的权衡。
基于90个网页-相关网页
LFSR同步并联 synchronous parallel LFSR
synchronous parallel LFSR LFSR同步并联
DS-LFSR 双速线性反馈移位寄存器
dual LFSR 转置线形反馈移位寄存器
RSA-LFSR 流密码系统
LFSR coding LFSR编码
LFSR encoding LFSR编码
LFSR sequence LFSR序列
LFSR reseeding LFSR重新播种
To improve the fault coverage, storage-mode is added to LFSR-mode.
用随机测试模式加存储测试模式，来提高故障覆盖率。
A new BIST structure with the method of test vector generation based on a controlled LFSR is proposed.
本文提出了一种基于受控线性反馈移位寄存器（LFSR）进行内建自测试的结构及其测试矢量生成方法。
Results from initial experiments show that an 8 ~ 24 degree LFSR can be formed by linking 1 ~ 7 degree LFSR's.
初步的实验结果表明，从8至24级的线性反馈移位寄存器都可以由1至7级的线性反馈移位寄存器链接构成。
应用推荐