Using Binary Decision Diagrams, this paper proposes a test generation method for functional level digital circuits.

本文利用二叉判定图提出了对功能级数字电路的一种测试产生方法。

youdao

Using Binary Decision Diagrams, this paper proposes a test generation method for functional level digital circuits.

本文利用二叉判定图提出了对功能级数字电路的一种测试产生方法。

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