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The technical scheme can save test time and reduce the damage on devices.
本发明提供的技术方案可以节约测试时间,降低测试对器件的损伤。
youdao
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The new scheme will save both time and Labour.
新方案既省时间又省劳力。
youdao
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The new scheme will save both time and labour …
新方案既省时间又省劳力。
youdao
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The new scheme will save both time and labour …
新方案既省时间又省劳力。
youdao