For the sake of exalting test efficiency, we should also reduce test time.
为了提高测试效率，也应该减少测试时间。
The technical scheme can save test time and reduce the damage on devices.
本发明提供的技术方案可以节约测试时间，降低测试对器件的损伤。
The technical scheme can save test time and reduce the damage on devices.
本发明提供的技术方案可以节约测试时间，降低测试对器件的损伤。
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