Testing generation of un test faults is a major factor influencing the efficiency of sequential circuits testing generation.
对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素。
Testing generation of un test faults is a major factor influencing the efficiency of sequential circuits testing generation.
对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素。
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