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  • A method is provided for testing a semiconductor device that includes both a digital (310) and analog (320) portion.

    本发明提供一种用于测试包含数字部分(310)和模拟部分(320)两者的半导体装置的方法。

    youdao

  • A method is provided for testing a semiconductor device that includes both a digital (310) and analog (320) portion.

    本发明提供一种用于测试包含数字部分(310)和模拟部分(320)两者的半导体装置的方法。

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- 来自原声例句
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