This dynamic body discharge technique eliminates body potential mismatches of PD SOI CMOS devices, achieving repeatable low threshold voltage and fast SRAM access time.
这种动态体放电的方法有效地解决了部分耗尽SOICMOS器件体电位不匹配的问题,得到了可重复性低阈值电压,提高了SRAM的读取速度。
This dynamic body discharge technique eliminates body potential mismatches of PD SOI CMOS devices, achieving repeatable low threshold voltage and fast SRAM access time.
这种动态体放电的方法有效地解决了部分耗尽SOICMOS器件体电位不匹配的问题,得到了可重复性低阈值电压,提高了SRAM的读取速度。
应用推荐