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  • This method is convenient and reliable in use. It is suitable for the reliability evaluation of sub-micrometer and deep sub-micrometer VLSI.

    该试验方法简便、可靠，适用于亚微米和深亚微米超大规模集成电路的可靠性评价。

    youdao

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    该试验方法简便、可靠，适用于亚微米和深亚微米超大规模集成电路的可靠性评价。

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- 来自原声例句
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