To select feature samples in circuit fault diagnosis, we propose a method of cloud-sample generation, and apply it to artificial-neural-network training and recognition.

为了选择电路故障诊断中的特征样本，提出了产生云样本的方法，并用于神经网络的训练和识别。

youdao

To select feature samples in circuit fault diagnosis, we propose a method of cloud-sample generation, and apply it to artificial-neural-network training and recognition.

为了选择电路故障诊断中的特征样本，提出了产生云样本的方法，并用于神经网络的训练和识别。

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