低能量电子绕射（EED）果之模拟及详尽数据分析。
Simulation and detailed analysis of low energy electron diffraction( LEED) data.
由于电子束在原子尺度不会绕射，所以它不会使得图案细节的边缘模糊。
An electron beam does not diffract at atomic scales, so it does not cause blurring of the edges of features.
由于电子束在原子尺度不会绕射，所以它不会使得图案细节的边缘模糊。
An electron beam does not diffract at atomic scales, so it does not cause blurring of the edges of features.
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