定性分析了高阻硅探测器表面漏电流的产生,同时介绍了一种有效降低漏电流的方法,即保护环结构。
This paper analyzes the reason producing surface leakage current of high resistivity detector, and adopts guard ring to reduce the leakage current.
定性分析了高阻硅探测器表面漏电流的产生,同时介绍了一种有效降低漏电流的方法,即保护环结构。
This paper analyzes the reason producing surface leakage current of high resistivity detector, and adopts guard ring to reduce the leakage current.
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