提供了一种新的二极管芯片识别检测的任务规划方法，并提供了相应的数据结构，以及参数的计算方式。
A new task planning of diode chips detection, the corresponding data-structure and the calculation method of correlative parameter are put forward.
提供了一种新的二极管芯片识别检测的任务规划方法，并提供了相应的数据结构，以及参数的计算方式。
A new task planning of diode chips detection, the corresponding data-structure and the calculation method of correlative parameter are put forward.
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