, 聚合物表面分析:X 射线光电子能谱 (XPS) 和静态次级离子质谱 (SSIMS) [M], 北京: 化学工业出版社, 2001, p50~88. [11] 董炎明,王勉, 吴玉松 等, 纤维素科学与技术 [J], 2001, 9(2): 42~56.
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静态次级离子质谱
Static secondary ion mass spectrometry
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