为弥补PIXE无法分析H、C、N和O等轻元素之不足，在PIXE靶室160°散射角安装金硅面垒探测器，用质子非卢瑟福背散射分析（PNBS）方法对核孔膜采集的气溶胶样品中H、C、N和O等轻元素的含量进行测量。
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卢瑟福背散射分析 rbs
瑟福背散射分析
Thurford backscattering analysis
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And, in fact there's a technique of analysis used today that's called Rutherford back scattering where people actually saw that this is a means of identifying the substance, the sample.
事实上这是现在用的一种分析技术,称作卢瑟福背散射,就是人们实际上看到的那样,这是鉴别物质样品的一种方法。
麻省理工公开课 - 固态化学导论课程节选
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