24.4.1 测试访问端口（TAP）和TAP 控制器 dsPIC33F 器件系列上的测试访问端口（TAP）是一个通用端口，用于对IEEE 标准1149.1 中定 义的许多内置支持功能和测...
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...1 标准规定了一个四线（TDI，TDO,TMS,TCK)串行接口（第五条线TRST是可选的），该接口称作测试访问端口（TAP, Test Access Port），用于访问复杂的集成电路（IC），例如微处理器、DSP、ASIC、FPGA和CPLD。
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... 备用访问映射 másodlagos címek leképezése 测试访问端口 tesztport 代码访问安全性 kódelérés biztonsága ...
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采用简易JTAG接口，通过计算机并口控制测试访问端口。
The easy JTAG is introduced to control Test Access port (TAP) by computer parallel port.
为支持板上芯片或逻辑的测试，联合测试行动小组专门设计和定义了一种通用的芯片边界扫描结构及其测试访问端口规范，称为JTAG标准。
Joint test Action Group designed a common chip boundary-scan structure and test access port criterion which is called JTAG standard to support testing on-board chip or logic.
文章分析了1149.4和1149.1标准的测试访问端口，以及测试逻辑结构和测试协议的异同，提出了模拟边界 扫描单元ABM和 数字边界 扫描单元DBM的行为模型；
The test access port and test logic architecture and protocol of 1149.4 and 1149.1 standards are analyzed, and behavior models for ABM and DBM are put forward.
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