数字电路的测试生成，就是要寻找若干输入矢量使被测故障激活，并且能将故障的效应传播到原始输出端测量出来。测试生成的基本目标是确定测试矢量，当将其施加到被测电路时，测试者能区分正常电路和故障电路。
组合数字集成电路测试生成技术研究 关键词：组合数字集成电路；可测性；失效；测试生成；算法 [gap=767]Key words: Combined digital IC；Testability；Fault；Test generation；Algorithm
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自动向量测试生成(Automatic Test Pattern Generation, ATPG)。测试生成的目的除了需要将子模块的测试向量应用于顶层模块上,进而从整个系统的外部管脚处进行测试外,更...
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随着VLSI电路复杂性的增长，自动测试生成(ATPG，Automatic Test PatternGeneration)的时间开销已经成为VLSI电路设计的瓶颈之一。并行计算是解决这个问题的一种有效的可行办法。
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自动测试生成程序 ATG AutomaticTestGenerator ; ATGUARD AutomaticTestGenerator
万兴在线测试生成软件 Wondershare QuizCreator
测试生成器 test generator
自动测试生成器 automated test generator
自动测试生成 automatic test generation ; ATPG ; AutoTestPatternGeneration ; automatic test pattern generation
测试生成算法 Test algorithms
下一代测试生成器 NGTG
测试生成程序 [计] test generator
宏模块测试生成程序 [计] macroblock test generator
These researches will be helpful to solve the critical self-test issues regarding accumulation-based generator and compressor of DSP data path in accumulator-based BIST environment.
该研究有助于解决基于累加器的BIST环境中DSP数据通路的测试生成器和响应压缩器的自测试难题。
参考来源 - 基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
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