4）薄膜测量的椭偏仪（Ellipsometer）法 薄膜测量的椭偏仪（ ） 椭圆偏振测量（椭偏术） 椭圆偏振测量（椭偏术）是研究两媒质界面或薄 膜中发生的现象及其特性的一种光...
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紫外光电子能谱被用来研究的价电子带的电子结构，同时真空紫外分光椭偏仪（VUV-SE）是用来评估他们的带间的电子激发/转换的强度和能量。这些材料的光学和电子特性，利用密度泛函理论在广义梯度近似模拟。
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The films were studied by ellipsometer,XRD and SEM.
并用椭偏仪、X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)对薄膜样品进行了研究。
参考来源 - 硅基LSMO薄膜和异质结制备及其电磁性质研究All of the experiment device such as ellipometry, UV-VIS spectrophotometer and optical microscope were used to measure the film, compare the theoretical analysis and experimental test, we can obtain the proper conclusion.4.
利用椭偏仪、紫外-可见分光光度计、光学显微镜等实验仪器对薄膜进行测量,通过理论与实验相比较,从而得出结果。
参考来源 - 溶胶—凝胶技术制备ZrO·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
用光谱式椭偏仪对薄膜的厚度进行了测试。
The thicknesses of the thin films are measured by spectroscopic ellipsometer.
为迅速调整好椭偏仪提供了理论和实验依据。
This can afford the theoretical and experimental proof for adjusting ellipsometer rapidly.
旋转元件式椭圆偏振仪，是一种光度式椭偏仪。
Rotating element ellipsometer is one of photometric ellipsometer.
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