...深次微米的制程技术中,其衍生的错误行为已无法完全由传统的错误模式解决,如延迟错误(delay Fault)和 桥接故障 ( bridge Fault )等与系统时序相关的错误,因此全速测试(at-speed)是唯一可行的测试方法。
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关键词: 桥接故障,测试生成, BDD 电路,等价类 , IDDQ 测试 [gap=1809]Keywords: Bridging Fault, Test Generation, BDD Circuit, Equivalence, IDDQ
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... bridge ambit 桥路 Bridge accountability 桥接故障 bridge absoluteel 桥式限幅器;桥式限度器 ...
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反馈桥接故障 feedback bridging fault
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