孔径抖动时间 Aperture jitter time
The definition and the causation for the aperture jitter is introduced firstly in this article.
本文首先介绍了孔径抖动的概念及其成因，指出孔径抖动是模数转换器采样周期之间出现的采样时间抖动，是由采样时刻的不确定性导致的。
参考来源 - 模数转换电路中孔径抖动的测量研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
AD C噪声分析、ADC虚假响应以及孔径抖动对系统的影响等。
It mainly includes ADC noise analysis, ADC false response, affection of aperture jitter to the system and so on.
结果表明，孔径抖动引起的孔径误差随着高速数据采集系统输入信号频率的升高而增大，由此将引起系统信噪比的下降。
The jitter error brought in by the aperture jitter increases as the frequency increase of the input signal in high speed data acquisition systems, thus it degrades the system's SNR.
孔径抖动 孔径抖动(或称孔径误差)是指采样与采样之间孔径延迟时间的变化起因是调制系统时钟相位时的噪声通过对内部ADC时钟抖动和外部采样时钟抖动进行和方根(root-sum-square)计算得到孔径抖动如果要求测量准确数据采样系统必须要有极低的相位噪声随着模拟输入斜率(dV/dt)的增加孔径抖动也增大一般来讲使用输入频率为MHz级的ADC时时钟抖动应为亚皮秒级 孔径延迟 孔径延迟是指在保持命令发出之后到ADC采样保持放大器(SHA)完全打开采样开关所需的时间即ADC采样发出命令到采样实际开始的时间有效孔径延迟时间te 包括孔径延迟和SHA中模拟数字传输延迟的影响其值可正可负
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