（3）外建自测试（Built-off Self-Test, BOST） BOST 技术主要是在芯片外部保留了一部分测试资源，测试数据主要依赖 于外部输入。
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...主要可归纳为三个方面：测试集紧缩技术、内建自测试 （Built-inSelf-Test，BIST）技术和外建自测试（Built-offSelf-Test，BOST）技术。
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built-off self-test
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参考来源 - 系统芯片外建自测试技术研究
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