可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。
...利诺伊大学电子与计算机工程学系，毕业后一直任职于美国Mentor Graphics公司，主要从事集成电路可测试性设计（Design For Test），验证，故障诊断（Diagnosis），Silicon Debug等研究。
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可测试性设计(DFT)技术被提了出来。
首先对测试技术和可测试性设计的一些方法做出了综述。
First of all, several methods about testing technology and design for testability and SoC test techniques are summarized.
本文提出了一种基于知识的可测试性设计(DFT)方法。
In this paper, a knowledge-based design for testability (DFT), is presented.
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