photoelectron analytical spectrometer
光电子分析光谱仪
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采用扫描电子显微镜(sem)、X射线光电子能谱仪(XPS)、傅立叶红外光谱仪(IR)对盘上磨痕进行表面分析。
The surface of the wear scar was analyzed by scanning electron microscopy (SEM), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Fourier infrared spectroscopy (IR).
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