低温贮存试验(Low Temperature Storage Test) : 在极低的温度下，利用膨胀收缩造成机械变型。对组件结构上造成脆化而引发的裂痕。
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低温贮存试验
Low temperature storage test
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低温考察法试验结果预测，在常温下硼葡萄糖酸钙冲剂的贮存有效期可暂定为两年。
The test results of microtherm method predict that the tentative storage effective time of electuary of Boric acid glucal would be two years in the normal atmospheric temperature.
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