Test Access Port 测试访问端口 ; 测试存取端口 ; 测试接入端口 ; 测试存取埠
test access control 测试接入控制
test access selector 测试接入选择器 ; 测试入口选择器
TAE Test Access Equipment 测试接入设备
test access unit 测试接入单元 ; 测试入口单元
TAC Test Access Control 测试接入控制
test access path 测试接入通道 ; 测试访问路径
RTA Remote Test Access 远程测试访问
tas test access selector 测试接入选择器
test access point [计] 测试入口点
The paper begins with a detailed study of IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture(IEEE1149.1) and IEEE Standard for In-System Configuration of Programmable Devices(IEEE1532).
首先对标准测试访问通道与边界扫描结构的IEEE1149.1标准和可编程逻辑器件系统内编程的IEEE1532标准进行了深入的分析和研究。
参考来源 - 嵌入式系统中FPGA编程方案研究与设计实现·2,447,543篇论文数据,部分数据来源于NoteExpress
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