同步辐射光电子能谱（SRPES，Synchrotron Radiation Photoelectron Spectroscopy）的测试结果表明，氧化膜的主要化学成份为Si02，其平均厚度为0．24nm。
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There are four surface state bands in the gap. Among them, two occupied surface state bands have been confirmed by valence band spectra of synchrotron radiation photoelectron spectroscopy.
在带隙附近存在四个表面态带，其中的两个占有表面态带已由价带的同步辐射光电子能谱实验得到证实。
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