前者称为俄歇出现电势谱(AEAPS)，后者为软X 射线出现电势谱(SXAPS)。如果测量入射电子束的反射，由于参与激发芯态电子的入射电子的能量损失而不在反射中出现，因此测量反射束强度的减弱也可探测空...
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使用方法包括X射线光电子能谱（XPS）、软x射线显现电势光谱 （SXAPS）、二次离子质谱（SIMS）、离子散射能谱（ISS）、俄歇电子能谱（AES）。
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