以后在迷信研讨和工业界普遍使用的扫描力显微镜（Scanning Force Microscope），其根底就是原子力显微镜。 编辑本段仪器构造 在原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）的系统中，可分红三个局部：力...
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...微镜（LFM）、磁力显微镜（MFM）、静电力显微镜（EFM）、化学 力显微镜等，它们统称为扫描力显微镜（Scanning Force Microscope，SFM）。
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...称扫描力显微镜 ; 扫描力显微术 Scanning Force Microscope 统称为扫描力显微镜 ; 等一系列扫描力显微镜 ; 为代表的扫描力显微镜 Scanning Kelvin Probe Force Microscopy 扫描开尔文探针显微镜 ..
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...纳米医学 pe，LFM）、静电力显微镜（electrostatic force microscope，EFM）等一系列扫描力显微镜（scanning force microscope，SFM），SPM家族不断发展壮大。
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A new optical interferometer suitable for using in the scanning force microscope is presented. The cantilever itself is used as a micro interferometer element.
目前在扫描力显微镜中经常用到的氮化硅三角形探针本身可以作为一个基于点微射干涉的微干涉元件。
The device that imaged the dust speck is called an atomic force microscope, which maps the shape of particles in three dimensions by scanning them with a sharp tip at the end of a spring.
拍摄这个尘埃的设备称为原子力显微镜，通过用弹簧末端上的一个细尖扫描尘埃来绘制这个颗粒的三维形状。
Micro cantilever probe of atomic force microscope (AFM) is a typical micro mechanical component, which is under a coupling deformation during the contact scanning process.
原子力显微镜（AFM）的微探针系统是典型的微机械构件，它在接触扫描过程处于耦合变形状态。
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