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scanning auger microscopy

  • 扫描俄歇电子显微镜

网络释义专业释义

  扫描俄歇电子显微镜

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短语

Auger scanning microscopy 俄歇扫描电子显微术

  • 扫描俄歇电子显微镜

·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress

双语例句

  • Auger electron spectroscopy (AES), scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) are used to analyze component and surface morphology of the films.

    用俄歇电子能谱(AES)、扫描电镜(sem)和原子力显微镜(afm)对薄膜的组成成分和表面形貌进行了分析。

    youdao

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