ray trap
雷陷阱
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The electron beam ion trap(EBIT) and the electron ion source(EBIS) are new instruments for the study of X-ray produced by very highly-charged ions when they interact with free electrons.
利用电子束离子源（EBIS）或者电子束离子陷阱（EBIT）产生的慢速高电荷态重离子束轰击金属靶面，离子束与靶面作用并复合辐射特征X射线；
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