method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by x-ray techniques
用x射线技术测量单晶硅片和硅片上平面的晶体学取向的方法
以上为机器翻译结果，长、整句建议使用 人工翻译 。
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动