...linear feedback shift registers, hardware test pattern generators, weighted random testing, pseudoexhaustive te[gap=452]关键词：元胞自动机，BIST，线性循环码，线性反馈移位寄存器，硬件测试模式生成器，加权随机测试，pseudoexhaustive测试1 ..
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...，即最长线性反馈移位寄存器序列，是一种比较常见的伪随机序列发生器，可 由线性反馈寄存器（ Linear Feedback Shift Registers， LFSR）来产生。如图 9-68。
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本文将给出在FPGA内利用线性反移位寄存器( Linear Feedback Shift Registers) 结构实现伪随机序列发生器的方法;这种方法不仅结构简单,易于实现,而且所产生的 伪随机序列具有周期长,随机特性好的特点。
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