II 残留应力量测 本实验利用X光绕射仪（X-Ray Diffraction，XRD）， 由Noyan与Jerome[20]以X光绕射法量测应力或应变，利 用Bragg绕射公式借由X光求...
基于4个网页-相关网页
II 残留应力量测 本实验利用X光绕射仪（X-Ray Diffraction，XRD）， 由Noyan与Jerome[20]以X光绕射法量测应力或应变，利 用Bragg绕射公式借由X光求...
基于2个网页-相关网页
多功能X光薄膜绕射仪 Multipurpose X-Ray Thin-Film Diffractometer
应用推荐