... 显微红外光谱仪（MIR） 飞行时间二次离子质谱（ToF SIMS ） 基质辅助激光解析-飞行时间质谱（MALDI-TOFTOF） ...
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TOF-SIMS 质谱仪 ; 飞行时间二次离子质谱分析 ; 二次离子质谱分析 ; 飞行时间二次离子质谱
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tof西姆斯
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Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.
飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种非常灵敏的表面检测技术。
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