表面形貌
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surface topograph
表面x射线物相照片
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Changes in specular reflectivity, weight loss, surface topograph and potential with time and current-potential curves during chemical polishing were determined.
测定了化学抛光过程中紫铜的表面光反射率、失重、表面形貌和电位随时间的变化以及抛光过程的电流-电位曲线。
youdao
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