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post-burn-in electrical test

网络释义

  老化后测试

老化后测试（post-burn-in electrical test） 一、DIP双列直插式封装  DIP(DualIn-line Package) 绝大多数中小规模集成电路(IC) 其引脚数一般不超过100个。

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有道翻译

post-burn-in electrical test

燃烧后的电气测试

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- 来自原声例句
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