...负偏压温度不稳定性 ; 界面态 ; 氧化层固定正电荷 [gap=9200]Key words : pMOSFET’s ; hot2carrier injection ; negative bias temperature instability ; interface states ; positive fixed oxide ..
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首先源、漏端接地,栅加固定的应力电压(-V_g)下,观察到了典型的负偏置 温度不稳定性(negative bias temperature instability, NBTI)效应;在源端、栅端接地,漏端加固定应力电压(-V_d)的情况下,观察到了电子注入效应;在高应力-V_...
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主要研究负栅压偏置不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)效应中的自愈合效应,研究了器件阈值电压随着恢复时间和应力时间的恢复规律.
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...了深亚微米pMOS器件的热载流子注入(hot-carrier injection,HCI)和负偏压温度不稳定效应(negative bias temperature instability,NBTI)的耦合效应和物理机制.
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