定义 中文名称： 膜厚测定仪 英文名称： film thickness measuring device 定义： 测量光学膜层厚度的仪器。 应用学科： 机械工程（一级学科）； 光学仪器（二级学科）； 光学测试仪器（二级学科） 以上内容由 全国科学技术名词审
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film thickness measuring device
薄膜厚度测量装置
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