注意：基于 MCI 体系结构的旧系统在这个步骤之前还将执行一个附加的步骤，即所谓的内建自检（Built In Self Test，BIST）。对于基于 PCI 体系结构的系统，不再需要执行这个步骤。
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注意：基于 MCI 体系结构的旧系统在这个步骤之前还将执行一个附加的步骤，即所谓的内建自检（Built In Self Test，BIST）。对于基于 PCI 体系结构的系统，不再需要执行这个步骤。
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built-in self test 内置自测试 ; 内建自我测试 ; 内建自测
Automatic Built-In Self-Test 自动化内置自测试
Built-In Self-Test 建式自我测试 ; 内建自我测试
logic built in self test 中逻辑内建自测试 ; 逻辑内建自测试
memory built-in self-test 存储器内建自测试
autonomous built-in self-test 自律内建自测
Built In-Self Test 自我测试电路
BIST Built-in Self Test 机内自我测试
Built-in Self-Test Architecture 内建自我测试的结构
This method can be applied to the built in self test of equipment and accomplish on line fault detection of period signals.
该方法可应用到设备内部自测试中，并可完成周期信号的在线故障检测。
Built-In self test: An electrical testing method that allows the tested devices to test itself with specific added-on hardware.
嵌入式自测试：一种在特别添加的硬件中允许被测元件自我测试的电子测试方法。
To reduce the storage volume of the test data during the built-in self-test (BIST), a new BIST technique based on two dimensional compression of test data is presented.
为压缩内建自测试(BIST)期间所需测试数据存储容量，提出了一种新的基于测试数据两维压缩的BIST方案。
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