...ated)、泛用型(UniversalGrid)、飞针型(FlyingProbe)、非触摸电子束(E-Beam)、导电布(胶)、电容式(Capacity)及刷测(ATG-SCANMAN)，其中最常运用的设备有三种，别离是专用测验机、泛用测验机及飞针测验机。
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