摘要： 本发明公开了一种用于多端口存储器的以功能时钟速度连续扫描阵列内置自测试(ABIST)的系统。在ABIST测试期间,来自第一端口的功能寻址锁存器用作用于第二端口的寻址锁存器的阴影锁存器。
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阵列内置自测试
Array built-in self-test
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