modulation measurement profilometry
1．2．6调制度测量轮廓术（Modulation Measurement Profilometry，MMP） 调制度测量轮廓术的测量原理是，将一J下弦光栅投射到待测物体表面，由于 物体表面的高度变化，每一点的...
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针对传统调制度轮廓术测量速度较慢的问题，本文提出了彩色双通道投影的调制度轮廓术。
In order to solve the lower measurement efficiency in traditional modulation profilometry, a fast modulation profilometry is proposed based on double color projections.
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