【摘要】： 正 地矿部岩矿测试技术研究所开发的X荧光光谱集成分析系统(XRFIAS),是在中国分析测试协会和中国地质科学院支持下,经3年努力研究开发而成的。
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荧光光谱集成分析系统
Integrated fluorescence spectrum analysis system
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